技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心（ICDD）自1941年發(fā)行標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片數(shù)據(jù)庫(kù)（PDF數(shù)據(jù)庫(kù)）至今已有80多年的歷史，PDF數(shù)據(jù)庫(kù)是目前有效的分析粉末XRD數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)衍射數(shù)據(jù)庫(kù)。2024年9月，ICDD正式發(fā)行2025版PDF數(shù)據(jù)庫(kù)，根據(jù)用戶的不同需求，ICDD所發(fā)行的數(shù)據(jù)庫(kù)種類(lèi)有PDF-5+、PDF-4Axiom、PDF-4Minerals和PDF-2數(shù)據(jù)庫(kù)；其中PDF-5+數(shù)據(jù)庫(kù)涵蓋之前的PDF-4+和PDF-4Organic的所有數(shù)據(jù)，無(wú)機(jī)物-有機(jī)物綜合性數(shù)據(jù)庫(kù)，收錄的數(shù)據(jù)超過(guò)110萬(wàn)...
在高科技迅猛發(fā)展的今天，半導(dǎo)體元器件已成為現(xiàn)代電子技術(shù)不可或缺的基石。從計(jì)算機(jī)芯片到手機(jī)，從家用電器到汽車(chē)控制系統(tǒng)，半導(dǎo)體元器件無(wú)處不在，其性能和可靠性直接影響著整個(gè)電子產(chǎn)品的質(zhì)量和進(jìn)步。CT-半導(dǎo)體元器件的核心原理在于利用半導(dǎo)體材料的獨(dú)特電子性質(zhì)，即導(dǎo)電能力介于導(dǎo)體和絕緣體之間，并且這一特性可以通過(guò)添加雜質(zhì)(摻雜)或改變溫度來(lái)調(diào)節(jié)。這些半導(dǎo)體材料通常是硅、鍺或砷化鎵等，它們經(jīng)過(guò)精密的加工過(guò)程，形成具有特定電子功能的器件，如二極管、晶體管、集成電路等。制造半導(dǎo)體元器件的過(guò)程涉...
突然看到飛機(jī)上的某位同學(xué)在那么努力的看文獻(xiàn)。敬業(yè)的精神著實(shí)很難得..幾日前講課，突然想到自己的學(xué)生和工作過(guò)往，發(fā)出也許是故作深沉的感慨：Boringagain。從學(xué)校到公司，從一份工作到另一份工作，在某個(gè)時(shí)間點(diǎn)突然開(kāi)始Boring起來(lái)。也許工作本就如此，大多數(shù)時(shí)間被無(wú)聊的事情的占據(jù)著，我們能做的無(wú)外乎自己努力地保持著Active的心態(tài)罷了。出現(xiàn)反常不過(guò)聽(tīng)課的老師，倒是覺(jué)得20多年來(lái)，總是遇到不同的東西，不會(huì)覺(jué)得Boring。是呀，遇到新的問(wèn)題，解決了，才會(huì)有成就感。但之后的體...
各種原因，好久沒(méi)更新了，有些疲憊。不過(guò)聽(tīng)了很多老師的話，我還是打算重啟繼續(xù)。不為了改變什么，純粹自?shī)首詷?lè)也未嘗不可?，F(xiàn)在就聊一點(diǎn)輕松的，關(guān)于學(xué)習(xí)方式的話題吧。關(guān)于自動(dòng)化的感悟關(guān)于自動(dòng)化，我始終持保留態(tài)度，不管你怎么跟我爭(zhēng)論它有多么“傻瓜”。目前的自動(dòng)化，我大多看不上眼，因?yàn)椤白詣?dòng)化”并沒(méi)有減輕我的工作量，反而讓我疲于解釋各種基礎(chǔ)的不能再基礎(chǔ)的問(wèn)題。我理解的自動(dòng)化的意義應(yīng)該是讓人從冗繁無(wú)意義的重復(fù)勞動(dòng)中解決出來(lái)，而不是代替人去做基本的思考和學(xué)習(xí)。人應(yīng)該站在比自動(dòng)化更高的程度上，...
在半導(dǎo)體材料科學(xué)領(lǐng)域，碳化硅（SiC）作為一種寬帶隙半導(dǎo)體材料，近年來(lái)因其高性能而備受關(guān)注。SiC以其高硬度、高抗壓強(qiáng)度、高熱穩(wěn)定性和優(yōu)異的半導(dǎo)體特性，在大功率器件、高溫環(huán)境應(yīng)用以及裝甲陶瓷等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的潛力。特別是在高壓器件中，SiC已成為硅（Si）的有力競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手，其性能的提升對(duì)于推動(dòng)相關(guān)技術(shù)的發(fā)展具有重要意義。然而，SiC材料的質(zhì)量評(píng)估是確保其在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)揮高性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。少數(shù)載流子壽命（MinorityCarrierLifetime），作為衡量半導(dǎo)體器件性能的基...
俄歇電子能譜（AugerElectronSpectroscopy,AES）作為一種高度靈敏的表面分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)及化學(xué)工程等領(lǐng)域，用于研究固體表面的化學(xué)組成及元素分布。ULVAC-PHI公司匠心打造的PHI710掃描俄歇納米探針系統(tǒng)，采用同軸筒鏡式電子能量分析器的設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)對(duì)納米表面特征、薄膜結(jié)構(gòu)和表面污染物成分全方面表征和二次電子成像同步觀測(cè)。圖1.PHI710設(shè)備外觀圖。PHI710掃描俄歇納米探針系統(tǒng)是該領(lǐng)域的先進(jìn)設(shè)備，其結(jié)構(gòu)構(gòu)成復(fù)雜而精密，主要...
X射線顯微CT技術(shù)是一種強(qiáng)大的成像工具，它使用X射線對(duì)樣品進(jìn)行高分辨率的三維成像。這種技術(shù)在醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。盡管X射線顯微CT提供了很高的圖像質(zhì)量和解析度，但其成像質(zhì)量受到多種因素的影響。以下是一些主要的影響因素：1.X射線源的穩(wěn)定性與質(zhì)量-射線穩(wěn)定性：X射線源的穩(wěn)定性直接影響到成像質(zhì)量。不穩(wěn)定的X射線輸出可能導(dǎo)致圖像噪聲增加，降低圖像的清晰度和對(duì)比度。-射線質(zhì)量：X射線的波長(zhǎng)和能量水平?jīng)Q定了其穿透力。不同材質(zhì)的樣品可能需要不同能量級(jí)別的X射線來(lái)優(yōu)...
在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的眾多奇跡中，X射線顯微成像系統(tǒng)無(wú)疑是一個(gè)引人注目的技術(shù)瑰寶。它利用X射線的強(qiáng)大穿透力，為我們提供了一個(gè)觀察微觀世界的全新窗口。這種系統(tǒng)不僅能透視固體材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，而且能夠在不破壞樣品的前提下，揭示其復(fù)雜的內(nèi)部構(gòu)造和組成。X射線顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質(zhì)相互作用時(shí)的吸收和散射現(xiàn)象。不同元素和化合物對(duì)X射線的吸收程度不同，利用這一性質(zhì)，X射線顯微成像可以高對(duì)比度地顯示出不同材料的分布和邊界。通過(guò)旋轉(zhuǎn)樣品并從多個(gè)角度進(jìn)行照射和檢測(cè)，可以得到足夠的數(shù)據(jù)重建出三維的...
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